[1] P. Belli, R. Bernabei, F. Cappella, R. Cerulli, F.A. Danevich, A.M. Dubovik, S. d’Angelo, E.N. Galashov, B.V. Grinyov, A. Incicchitti, V.V. Kobychev, M. Laubenstein, L.L. Nagornaya, F. Nozzoli, D.V. Poda, R.B. Podviyanuk, O.G. Polischuk, D. Prosperi, V.N. Shlegel, V.I. Tretyak, et al., Nucl. Instrum. Methods A 626e627 (2011) 31.
[2] Z. Lou, J. Hao, M. Cocivera, J. Lumin. 99 (2002) 349.
[3] H. Sun, W. Fan, Y. Li, X. Cheng, P. Li, X. Zhao, J. Solid State Chem. 183 (2010) 3052.
[4] H. Kraus, F.A. Danevich, S. Henry, V.V. Kobychev, V.B. Mikhailik, V.M. Mokina, S.S. Nagorny, O.G. Polischuk, V.I. Tretyak, Nucl. Instrum. Methods A 600 (2009) 594.
[5] Q.Z. Wang,Y.B. Shi, T.J. Niu, J He, Houde She, B. Su, J. Sol-Gel Sci. Techn. 83 (2017) 555.
[6] J. Arin , P. Dumrongrojthanath , O. Yayapao ,A. Phuruangrat , S. Thongtem , T. Thongtem , Superlattice Microst. 67 (2014) 197.
[7] G. Xiong, W. Zhang, Z. F. Hu, Z. Y. Feng, P. Hu, L. Ma, Y. Pan, Y.H. Wang, L. Luo, J. Luminescence,
206, (2019) 370.
[8] A. Phuruangrat, P. Dumrongrojthanath, T. Thongtem, S. Thongtem, J. Ceram. Soc. Jpn., 125(2017) 62.
[9] J. Nie, Q.U. Hassan, Y. Jia,, J. Gao,, J. Peng,, J. Lu,, F. Zhang, G. Zhu , Q. Wang, Inorg. Chem. Front., 7 (2020) 356.
[10] P.F. Scofield, K.S. Knight, S.A.T. Redfern, G. Cressey, Acta Crystallogr. Sect. B 53 (1997) 102.
[11] J.P. Perdew, S. Burke, M. Ernzerhof, Phys. Rev. Lett. 77 (1996) 3865.
[12] C. Amrosch-Draxl, J. O. Sofo, Compt. Phys. Commun., 175(2006) 1.
[13] Y. Zhang, W. M. Shen, Basics of Solid Electronics (Zhe Jiang Univ. Press, Hangzhou, 2005).